裁判例結果詳細
裁判例結果詳細
知的財産高等裁判所
- 事件番号
平成20(行ケ)10266
- 事件名
審決取消請求事件
- 事件種別
審決取消訴訟
- 事件種類
審決（無効・成立）取消
- 発明等の名称等
半導体装置のテスト方法，半導体装置のテスト用プローブ針とその製造方法およびそのプローブ針を備えたプローブカード
- 判決結果
請求棄却
- 裁判年月日
平成21年3月25日
- 裁判所名
知的財産高等裁判所
- 部名
１部
- 原審裁判所名
- 原審事件番号
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