裁判例結果詳細
裁判例結果詳細
知的財産高等裁判所
- 事件番号
平成17(行ケ)10503
- 事件名
- 事件種別
審決取消訴訟
- 事件種類
審決（無効・不成立）取消
- 発明等の名称等
半導体装置のテスト方法，半導体装置のテスト用プローブ針とその製造方法およびそのプローブ針を備えたプローブカード
- 判決結果
請求棄却
- 裁判年月日
平成18年3月1日
- 裁判所名
知的財産高等裁判所
- 部名
４部
- 原審裁判所名
- 原審事件番号
- 当事者
-
原告：（株）日本マイクロニクス
被告：三菱電機（株）
- 主な争点
進歩性
- 上告提起等の有無
上告受理申立て
- 上告審の結果
不受理 (平成18年6月20日)
- 権利種別
特許権
- 訴訟類型
行政訴訟
- 要旨
- 全文